飛機在強對流天氣飛行時，容易受到雷電的直接附著作用，產生高溫、高壓和強電磁力，對飛機造成燃燒、溶蝕、爆炸、結構畸變和強度降低等效應。我司自主研發的高電壓附著點分區試驗系統，可模擬測試飛機等設備在遭受雷擊時，在飛機表面不同區域可能被雷電襲擊的概率，找到容易被雷電襲擊的附著點，完全符合GJB 1389A，GJB 3567等國軍標標準，同時也滿足美軍標MIL-STD-464C、航空系統SAE ARP5416、DO 160 section23等飛機雷電試驗標準要求?？蓱糜陲w機整機、航空航天材料、艦船、導彈、軍用車輛、雷達等設備設施。

雷電直接效應試驗流程圖：

波形參數的定義：

根據MIL-STD-464C及SAE ARP5412等標準規定，測試波形主要有A、B、C、D四個電壓波形，如下圖所示。

飛機雷電高壓附著點分區試驗示意圖：

具體要求：
A波形，電壓波形A為一個上升斜率為1000(- 0 + 50%) kV/μs的波形，其幅值的增加直到試驗件擊穿或者閃絡終止，并迅速歸零，如果試驗件沒有閃絡，則波形的跌落沒有規定。
B波形，電壓波形B為一個上升斜率為1.2 μs(± 20%)、持續時間為50 μs(± 20%)的開路電壓波形。
C波形，電壓波形C為在2 μs處截斷的電壓波形，對于上升時間和峰值沒有特殊要求。
D波形，電壓波形D為一個上升斜率為50 - 250 μs、持續時間大于2000 μs的開路電壓波形。該波形用于試驗件的流光特性分析，當使用該波形進行雷擊附著區概率分析時，得出的結論要比實際高(見GJB 3567 5.1.1.3)